CERSA has developed a range of instruments using a variety of optical technologies to cover a wide range of applications and to meet production plant requirements for speed, precision, detection and characterization of fine defects. These measurements can then be displayed, recorded or analyzed.
Our in-line instruments enable you to monitor fluctuations in wire or cable diameter (wire drawing and extrusion) as well as detect defects (lumps and neck downs), particularly on high-speed lines.
Our off-line instruments enable you to proceed with incoming inspection and analyses samples from customer’s production. Our gauges are well-known for very fine diameters (down 5µm) and offer different solutions for geometry and surface inspection.
Advantages of our instruments are numerous. The optical measurement is contactless and also wire vibration independent. The fact that there are no moving parts inside our gauges ensures high reliability compared to mainstream, rotating-mirror technology widely used by our competitors.
Our 40 years of experience guarantee you will benefit from the best measurement instruments on the market: accuracy, high-speed, repeatability, vibration independent gauges; these characteristics are the keys to our market leadership and make CERSA-MCI stand out from the competition.
soluções de medição em linha

Medições de diâmetro e defeitos geométricos
Detecção de defeitos superficiais em linha
soluções de medição offline

Medições de diâmetro e ovalidade offline
Inspeção de defeitos superficiais em laboratório.
Nossas soluções de medição parade fios,
cabos e tubos
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O DLN - solução completa
A linha DLN oferece medição em tempo real ultrarrápida e de alta precisão para fios, cabos e tubos finos. Ela mede simultaneamente três diâmetros independentes e detecta defeitos geométricos com resolução excepcional.
Com 750.000 medições de diâmetro por segundo (250.000 por eixo), seus sensores CMOS garantem precisão mesmo em caso de vibrações, graças a um tempo de exposição de 1 µs. O sistema opera sem partes móveis, garantindo máxima confiabilidade em ambientes industriais.
Totalmente integrado com óptica e eletrônica, o DLN não requer unidade de computação externa, tornando-se uma solução completa, robusta e eficiente.

Medição de defeitos superficiais
SQMF : detector de defeitos superficiais.
Detecção de defeitos superficiais em alta resolução e em tempo real em fios, cabos e tubos finos, com 128 pixels por circunferência e 200.000 imagens por segundo.
A imagem do defeito é exibida no CIM para análise e caracterização pelo cliente.
Resolução linear mínima: 18 μm e 100% da superfície coberta.

O WIRE360 - inspeção de amostras de superfície
Based on the SQMF powerful capabilities, CERSA developed a manual workbench for easily holding samples tight (from 15µm up to 2mm) for an exhaustive analysis of the sample surface over 360°.
Ideal para inspeção de recebimento ou análise de amostras.
Leva menos de 1 minuto para obter uma imagem da superfície!
O software dedicado oferece todas as ferramentas necessárias para caracterizar superfícies e detectar possíveis defeitos.

Medição de diâmetro - 2 eixos
Versão de eixo duplo LDS.
Projetado para medir diâmetros de fios finos com alta precisão. Seu princípio de medição é baseado na difração a laser. Independente da posição e da vibração.
Componentes totalmente estáticos, sem partes móveis.
Não é necessário fazer média.
Pode ser utilizado para medições em linha para monitoramento contínuo de diâmetro, com valores de 2 diâmetros calculados a 90° com alta precisão.

Medição de diâmetro e ovalidade
LDS + acessório de rotação (WSR) + impressora de etiquetas + laboratório CIM.
Uma solução global para facilitar a medição de amostras de fios finos (até 5 µm) em laboratório ou para inspeção de recebimento.
O acessório WSR auxilia na medição do diâmetro em 360° e no cálculo da ovalidade.
Equipada com a impressora de etiquetas e o software CIM Lab, ela se torna uma solução completa para melhorar a inspeção de controle de qualidade de seus fios.

Medição do diâmetro da amostra
LDS + Pedal + Impressora de Etiquetas + Laboratório CIM.
Segure a amostra com a mão e use o pedal para acionar a medição do diâmetro.
Uma solução simples e com boa relação custo-benefício para medir facilmente amostras de fios finos (até 2000 µm) em laboratório ou para inspeção de recebimento.
Equipada com a impressora de etiquetas e o software CIM Lab, ela se torna uma solução completa para melhorar a inspeção de controle de qualidade de seus fios.

Medição de diâmetro - 1 eixo
versão de eixo único LDS.
Projetado para medir o diâmetro de fios finos com alta precisão.
Seu princípio de medição é baseado na difração a laser. Independência de posição e vibração.
Componentes totalmente estáticos, sem partes móveis. Não requer cálculo de médias. Pode ser usado para medições em linha para monitoramento contínuo de diâmetro com alta precisão.
Nossa solução de software
para medição de fios, cabos e tubos.

Software CIM - Gerenciador de instrumentos
CERSA-MCI has developed its own PC Software for managing its instruments. CIM provides real-time measurement display and automatic instrument parameter settings according to customer product characteristics. It also records all the measurements and events in a database.
2 different versions are available for wire & cable measurements, depending on use and requirements:
The PROD version has been developed for IN-LINE applications. Adjustment of tolerances and a triggering threshold are specific features for the production environment.
The LAB version has been developed for OFF-LINE applications. This version allows you to classify samples by customizable fields, keep records and generate reports, as well as extract the data to.csv file.
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de medição de fios, cabos e tubos.
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O DLN - solução completa
A linha DLN oferece medição em tempo real ultrarrápida e de alta precisão para fios, cabos e tubos finos. Ela mede simultaneamente três diâmetros independentes e detecta defeitos geométricos com resolução excepcional.
Com 750.000 medições de diâmetro por segundo (250.000 por eixo), seus sensores CMOS garantem precisão mesmo em caso de vibrações, graças a um tempo de exposição de 1 µs. O sistema opera sem partes móveis, garantindo máxima confiabilidade em ambientes industriais.
Totalmente integrado com óptica e eletrônica, o DLN não requer unidade de computação externa, tornando-se uma solução completa, robusta e eficiente.

Medição de defeitos superficiais
SQMF : detector de defeitos superficiais.
Detecção de defeitos superficiais em alta resolução e em tempo real em fios, cabos e tubos finos, com 128 pixels por circunferência e 200.000 imagens por segundo.
A imagem do defeito é exibida no CIM para análise e caracterização pelo cliente.
Resolução linear mínima: 18 μm e 100% da superfície coberta.

Medição de diâmetro - 2 eixos
Versão de eixo duplo LDS.
Projetado para medir diâmetros de fios finos com alta precisão. Seu princípio de medição é baseado na difração a laser. Independente da posição e da vibração.
Componentes totalmente estáticos, sem partes móveis.
Não é necessário fazer média.
Pode ser utilizado para medições em linha para monitoramento contínuo de diâmetro, com valores de 2 diâmetros calculados a 90° com alta precisão.

Medição de diâmetro - 1 eixo
versão de eixo único LDS.
Projetado para medir o diâmetro de fios finos com alta precisão.
Seu princípio de medição é baseado na difração a laser. Independência de posição e vibração.
Componentes totalmente estáticos, sem partes móveis. Não requer cálculo de médias. Pode ser usado para medições em linha para monitoramento contínuo de diâmetro com alta precisão.
Nossa solução de software
para medição de fios, cabos e tubos.

Software CIM - Gerenciador de instrumentos
CERSA-MCI has developed its own PC Software for managing its instruments. CIM provides real-time measurement display and automatic instrument parameter settings according to customer product characteristics. It also records all the measurements and events in a database.
2 different versions are available for wire & cable measurements, depending on use and requirements:
The PROD version has been developed for IN-LINE applications. Adjustment of tolerances and a triggering threshold are specific features for the production environment.
The LAB version has been developed for OFF-LINE applications. This version allows you to classify samples by customizable fields, keep records and generate reports, as well as extract the data to.csv file.
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Leva menos de 1 minuto para obter uma imagem da superfície!
O software dedicado oferece todas as ferramentas necessárias para caracterizar superfícies e detectar possíveis defeitos.

Medição de diâmetro e ovalidade
LDS + acessório de rotação (WSR) + impressora de etiquetas + laboratório CIM.
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Medição do diâmetro da amostra
LDS + Pedal + Impressora de Etiquetas + Laboratório CIM.
Segure a amostra com a mão e use o pedal para acionar a medição do diâmetro.
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Equipada com a impressora de etiquetas e o software CIM Lab, ela se torna uma solução completa para melhorar a inspeção de controle de qualidade de seus fios.
Nossa solução de software
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